SIGS DATACOM Fachinformationen für IT-Professionals

German Testing Day 2019

Die unabhängige Konferenz zu Software-Qualität
Frankfurt am Main, 06.-07. Juni 2019

Sessionsdetails

Vortrag: GTD 6.3
Datum: Fr, 07.06.2019
Uhrzeit: 12:05 - 12:40

Automatisierter und agiler Test von eingebetteten Systemen – modulare Hardware in the Loop-Testsysteme

Uhrzeit: 12:05 - 12:40
Vortrag: GTD 6.3

 

Eine modulare, skalierbare Plattform für die Realisierung von Hardware in the Loop-Testsystemen ist für die große und vielseitige Welt der eingebetteten Systeme ist heute unerlässlich. Mit Hilfe dieser Plattform ist die Realisierung von HIL-Testsystemen in sehr unterschiedlichen Größen und Leistungsklassen möglich. Damit können Testsysteme für den Softwareentwickler und den Testingenieur realisiert werden. Diese Systeme können alle Teststufen vom Modultest bis zum Systemtest bedienen. Als Basis für die Testsystemplattform kommt Linux-RT und die Echtzeit-Middleware Gamma V zum Einsatz. Mit Hilfe des Matlab/Simulink-Blockset ist die einfache Erstellung von Umgebungsmodellen und deren Portierung auf die Testsystemplattform möglich.