SIGS DATACOM Fachinformationen für IT-Professionals

German Testing Day 2019

Die unabhängige Konferenz zu Software-Qualität
Frankfurt am Main, 06.-07. Juni 2019

Sessionsdetails

Vortrag: GTD 4.1
Datum: Fr, 07.06.2019
Uhrzeit: 10:35 - 11:10

Hardware in the Loop-Test in Kombination mit Continuous Integration

Uhrzeit: 10:35 - 11:10
Vortrag: GTD 4.1

 

Dieser Artikel zeigt die Integration zwischen Continuous Integration Systems und HIL-Testsystemen. Probleme und Herausforderungen bei der Integration von HIL-Testsystemen mit Continuous Integration Systemen werden diskutiert. Der automatische Aufbau der Testsysteme und der Teststart werden vorgestellt. Außerdem wird die automatische Auswertung der Testergebnisse beschrieben. Die Erfahrungen aus verschiedenen realen Testprojekten werden vorgestellt und die Vorteile der Continuous Integration im Zusammenhang mit dem HIL-Test demonstriert. Es konnte in den Projekten eine 100%ige Automatisierung des Aufbaus der Testsysteme und des Testobjekts erreicht werden. Darüber hinaus sind der Teststart und die Testausführung zu 100% automatisiert.

Zielpublikum:
Tester, Entwickler, Testmanager, Projektleiter
Vorraussetzungen: Grundlegende Vorstellung vom Test eingebetteter Systeme
Schwierigkeitsgrad: Advanced